Семинар: Проведение патентного поиска Семинар прошёл

Код 23134


О чём семинар?

Авторская программа Е.В. Савиковской - патентный поверенный РФ, директор патентно-оценочного агентства, дипломированный оценщик интеллектуальной собственности, разработчик системы управления интеллектуальной собственностью, опытный консультант-практик.

Программа семинара

Семинар "Проведение патентного поиска"

Авторская программа Е.В. Савиковской - патентный поверенный РФ, директор патентно-оценочного агентства, дипломированный оценщик интеллектуальной собственности, разработчик системы управления интеллектуальной собственностью, опытный консультант-практик.

Занятия проводятся в активной форме в компьютерном классе.
По всем темам будут рассмотрены конкретные примеры.

1. Патент как источник информации.
2. Особенности патентной документации. Примеры патентных описаний разных стран.
3. Патентная документация в соответствии с процедурой выдачи патентов в РФ и по процедуре РСТ.
4. Патентная документация в соответствии с процедурой международной регистрации товарных знаков (Мадридское соглашение и Протокол к нему).
5. Стандарты ВОИС по патентной документации.
6. Характеристика патентных классификаторов.

  • Международная патентная классификация (МПК).

  • Международный классификатор промышленных образцов (МКПО).

  • Международная классификация товаров и услуг для товарных знаков (МКТУ).


7. Виды патентного поиска.

  • Методика проведения патентного поиска с целью проверки охраноспособности нового технического решения.

  • Методика проведения патентного поиска с целью определения технического уровня.

  • Методика проведения патентного поиска с целью определения патентной чистоты изделия.


8. Характеристика и проведение поиска в бесплатных патентных базах данных.

  • Проведение патентного поиска в базе данных РФ.

  • Проведение патентного поиска в базе данных Европейского патентного ведомства.

  • Проведение патентного поиска в базе данных ВОИС.

  • Проведение патентного поиска в базе данных США.

  • Проведение патентного поиска в базе данных Японии.

  • Проведение патентного поиска в базе данных Китая.


9. Порядок оформления Отчета о патентных исследованиях в соответствии с ГОСТ Р 15.011-96 «Система разработки и постановки продукции на производство. Патентные исследования».
10. Порядок оформления патентного формуляра.